寬光譜太陽光模擬器，目前由日本SAN-EI公司開發(fā)完成，并且已交付日本產(chǎn)業(yè)綜合技術(shù)研究所AIST使用；該設(shè)備光譜不匹配性<±5%，有效光譜范圍300nm~1800nm，為太陽能電池計量標(biāo)準(zhǔn)化、研究和研發(fā)新一代太陽能電池提供可能；

可廣泛應(yīng)用于各種太陽能電池的測試：非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)、半導(dǎo)體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、燃料敏化電池(DSSC)、有機(jī)導(dǎo)電高分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (銅銦硒化物)等，尤其是對于薄膜多結(jié)太陽能電池測試；

寬光譜太陽光模擬器

技術(shù)參數(shù)： AM1.5G & AM0高匹配光譜！
標(biāo)準(zhǔn)化太陽能模擬器（A+A+A+），太陽光模擬器（AAA Class），High spectral match Solar Simulator；太陽能電池IV測試儀，量子效率，光譜響應(yīng)及IPCE測量系統(tǒng)；
 1，采用雙燈混合設(shè)計；
 2，有效照光面積：2inch×2inch，4inch×4inch，6inch×6inch，8inch×8inch，10inch×10inch，12inch×12inch等（其他尺寸可定制）；
  （組件/模組測試儀、穩(wěn)態(tài)組件太陽光模擬器）；
 3，光譜不匹配度：AM1.5G, ＜±5%, A+ Class；
 4，輻射空間不均勻性：＜2%，A Class；  
 5，時間不穩(wěn)定性：＜1%，A Class；
 6，輻射強(qiáng)度：輻射強(qiáng)度可調(diào)±30%；
 7，連續(xù)照射模式；

主要特點(diǎn)：
 1，匹配標(biāo)準(zhǔn)：ASTM 、IEC 、JIS ；
 2，可以任意調(diào)節(jié)照射方向以及燈的位置；
 3，用戶可自己設(shè)定任意光照強(qiáng)度；
 4，燈使用壽命計時；

另外，我公司為客戶提供其他類型太陽能測性能試設(shè)備：

     • 太陽能電池光譜響應(yīng)測試系統(tǒng)、IPCE測試系統(tǒng)、量子效率測試系統(tǒng)；

     • 太陽能電池測量系統(tǒng)（光譜響應(yīng)測試系統(tǒng),IPCE測試系統(tǒng),量子效率測試系統(tǒng)，I-V曲線測量系統(tǒng)），太陽能電池測試儀；

     • 太陽能電池I-V曲線測量系統(tǒng)；

     • I-V 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)；

     • 大面積太陽能模擬器/太陽光模擬器/雙燈太陽光模擬器；

     • 太陽能電池分選機(jī)；

     • 太陽能電池I-V測試儀；

     • 分光輻射度計，

     • 參考電池/標(biāo)準(zhǔn)電池，

     • 有機(jī)太陽能電池載流子遷移率測量系統(tǒng)；

     • 鈣鈦礦太陽能電池載流子遷移率測量系統(tǒng)；