品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,汽車,電氣,綜合 |
電流分辨 | 達(dá)到pA(10e-12A)量級(jí) | 溫度范圍 | -184℃ to 300℃ |
系統(tǒng)整合了熱釋電測(cè)試、漏電流測(cè)試和熱刺激去極化電流測(cè)試功能,電流分辨達(dá)到pA(10e-12A)量級(jí)!
開(kāi)發(fā)背景
1)在高能量密度和功率電容中,漏電流對(duì)于功率損耗和熱擊穿意義重大;
2)依據(jù)ASTM D257測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),很多商用材料的電阻率在短時(shí)間(60s)低電場(chǎng)(<1v>100V/um,并且電導(dǎo)率隨電場(chǎng)呈指數(shù)增加;因此這些材料的數(shù)據(jù)與實(shí)際應(yīng)用關(guān)聯(lián)不大;
3)在高電場(chǎng)和高溫下測(cè)量高分子薄膜的漏電流很具有挑戰(zhàn)性:
-電流達(dá)到pA(10e-12A)量級(jí),因此周圍環(huán)境的干擾須被屏蔽;
-在長(zhǎng)期高壓下測(cè)試,介電液可能變得導(dǎo)電,因此測(cè)試須在無(wú)介電液的空氣中進(jìn)行,很多試樣在空氣中有很低的介電擊穿強(qiáng)度,而且長(zhǎng)時(shí)間(>1h)高電場(chǎng)(>100V/um)下測(cè)試就非常困難;
-高分子薄膜通常比較軟,而且很容易被電極損壞,因此測(cè)試這種樣品具有難度(厚度<10um)在>100V/um電場(chǎng)下;
測(cè)試系統(tǒng)功能及配置
1)pA測(cè)量單元:Keithley 6517(6514)或者類似的儀表,需配備同軸屏蔽電纜;
2)高壓?jiǎn)卧篠RS PS350 或者Trek Voltage 10kV;
3)溫度范圍:-184℃ to >300℃,帶液氮冷去;
4)全屏蔽測(cè)試箱體,絕緣安裝在腔體門內(nèi)側(cè),便于裝載樣品;
5)高壓加載通過(guò)彈簧加載的球電極,即保證良好的電接觸,又不會(huì)損壞軟的高分子薄膜樣品;
6)pA電流測(cè)量已經(jīng)被印證,通過(guò)<5um電容薄膜在高場(chǎng)(200v>20h無(wú)介電擊穿;
7)試樣大小:up to 8cm直徑;
8)該系統(tǒng)也可用于熱激發(fā)激化電流測(cè)量或者熱釋電電流;
9)模塊化設(shè)計(jì),測(cè)試腔室也可以用于介電和高壓測(cè)試系統(tǒng);